一：仪器设备名称：

型号：ZSX Primus II

生产厂家：日本理学

仪器性能及参数主要技术参数：

X射线荧光（以下简称XRF）光谱法的基本原理是当物质中的原子受到适当的高能辐射的激发后，放射出该原子所具有的特征X射线。根据探测到该元素特征X射线的存在与否的特点，可以定性分析；而其强度的大小可作定量分析。该法具有准确度高，分析速度快，试样形态多样性及测定时的非破坏性等特点，它不仅用于常量元素的定性和定量分析，而且也可进行微量元素的测定，其检出限多数可达10-6，与分离、富集等手段相结合，可达10-8。

元素测试范围：Be-U

上照射方式

世界上目前出光效率最高的4KW端窗型X光管

独特的光学系统，可实现直径0.5mm选区分析功能

48样品交换器

自动真空稳定系统APC，大大提高了轻元素的分析精度

φ0.5mm ～φ35mm 8 位置光阑

高效率的芯线自动清洗系统

二：服务项目（测试项目）

固体、粉末样品组份的定性、半定量、及定量分析

微区分析

三：服务指南

负责人：贾志泰

联系方式

电话：0531-88364518

E-mail：jiazhitai@gmail.com

仪器放置地点：功能晶体材料楼 332房间

测试样品要求：

样品直径：7-40 mm

测试面光滑/抛光

样品无毒、不易碎、不挥发、不易爆、不潮解

粉末样品在需压实，在真空条件下不破裂飞溅，以免污染测试室及X光管

收费标准：

半定量分析（全元素）：所内 200元/样品；外单位 400元/样品

定量分析（需自备标样）：所内1000元/样品；外单位 2000元/样品

微区分析：所内80元/点元素；外单位160元/点元素